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Deutschland – Instrumente zum Messen elektrischer Größen – 300 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz
IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative MikroelektronikDeutschlandVeröffentlicht am 15. Juni 2026
Frist abgelaufen
DeutschlandBeschreibung
300 mm Semi-Automatic RF Probe System for On-Wafer Measurements up to 250 GHz
CPV-Codes
Instrumente zum Messen elektrischer GrößenMaschinen und Geräte zum Prüfen und Messen
Unterlagen & Angebotsabgabe
KI-Zusammenfassung
Anmelden für KI-ZusammenfassungContains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.
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