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Deutschland – Rasterelektronenmikroskope – Rasterelektronenmikroskop Starke

Hochschule KaiserslauternDeutschlandVeröffentlicht am 03. Aug. 2026
Noch 37 Tage

Beschreibung

Beschaffung eines Rasterelektronenmikroskops (REM) mit Raster-Kraft-/Magnet-Kraft-Mikroskopie-Modul (AFM/MFM) einschließlich Lieferung, Installation und Inbetriebnahme.

CPV-Codes

RasterelektronenmikroskopeVerschiedene Bestandteile von Mikroskopen

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