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France – Scanning electron microscopes – Fourniture d'un microscope à double faisceaux électronique et ionique (MEB-FIB) nucléarisé et de ses accessoires (nano-indenteur in-situ et système de métallisation et dépôt carbone) pour le Groupe de Physique des Matériaux.

Université de Rouen NormandieFrancePublished on May 04, 2026
Deadline passed

Description

Fourniture d'un microscope à double faisceaux électronique et ionique (MEB-FIB) nucléarisé et de ses accessoires (nano-indenteur in-situ et système de métallisation et dépôt carbone) pour le Groupe de Physique des Matériaux, Université de Rouen Normandie

CPV codes

Scanning electron microscopesMachines and apparatus for testing and measuringLaboratory, optical and precision equipments (excl. glasses)

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Contains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.

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