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Germany – Scanning electron microscopes – Elektronenstrahllithografie
Freistaat Bayern, vertreten durch die Universität Erlangen-NürnbergGermanyPublished on Oct 21, 2026
32 days left
GermanyDescription
Gegenstand der Beschaffung ist ein Elektronenstrahllithografie-System (EBL) mit integrierten Funktionen zur Rasterelektronenmikroskopie (REM).
CPV codes
Scanning electron microscopesMicroelectronic machinery and apparatus
Documents & submission
AI summary
Sign in for an AI summaryContains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.
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