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Portugal – Scanning electron microscopes – Aquisição de 1 (um) sistema de microscopia duplo de Feixe de Iões Focalizado (FIB) acoplado a Microscópio Eletrónico de Varrimento por emissão de campo (FEG-SEM) para o Laboratório Associado CICECO Instituto de Materiais de Aveiro
Universidade de AveiroPortugalPublished on May 28, 2026
Deadline passed
PortugalDescription
Aquisição de 1 (um) sistema de microscopia duplo de Feixe de Iões Focalizado (FIB) acoplado a Microscópio Eletrónico de Varrimento por emissão de campo (FEG-SEM) para o Laboratório Associado CICECO Instituto de Materiais de Aveiro
CPV codes
Scanning electron microscopes
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Sign in for an AI summaryContains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.
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