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France – Scanning electron microscopes – Achat d’un microscope électronique à balayage couplé à un analyseur élémentaire de type « spectromètre à émission d’énergie », neuf
IMT Nord EuropeFrancePublished on Jul 21, 2026
Deadline passed
FranceDescription
Purchase of a new scanning electron microscope coupled with an elemental analyser of the « energy dispersive X-ray spectrometer » type
CPV codes
Scanning electron microscopes
Documents & submission
AI summary
Sign in for an AI summaryContains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.
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