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Germany – Scanning electron microscopes – Dual-Beam Feldemissions-Raterelektronenmikroskop
Universität RostockGermanyPublished on Mar 26, 2026
Deadline passed
GermanyDescription
Im Rahmen der vorliegenden Beschaffungsmaßnahme ist an der Universität Rostock am Lehrstuhl für Werkstofftechnik ein Dual-Beam Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Gallium-Ionenstrahl (Dual-Beam FE-REM/Ga-FIB) zu beschaffen. Das Dual-Beam FE-REM/Ga-FIB soll für die Untersuchung von Werkstoffen und Materialien unterschiedlichster Herkunft und Zusammensetzung eingesetzt werden.
CPV codes
Scanning electron microscopes
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Sign in for an AI summaryContains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.
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