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Deutschland – Rasterelektronenmikroskope – Elektronenstrahllithografie
Freistaat Bayern, vertreten durch die Universität Erlangen-NürnbergAlemaniaPublicado el 21 oct 2026
32 días restantes
AlemaniaDescripción
Gegenstand der Beschaffung ist ein Elektronenstrahllithografie-System (EBL) mit integrierten Funktionen zur Rasterelektronenmikroskopie (REM).
Códigos CPV
Scanning electron microscopesMicroelectronic machinery and apparatus
Documentos y presentación
Resumen de IA
Inicia sesión para un resumen de IAContains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.
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