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Suède – Microscopes – Atomic Force Microscope (AFM)

Chalmers Tekniska Högskola AktiebolagSuèdePublié le 20 juil. 2026
44 jours restants

Description

Microscope à force atomique (AFM) pour la caractérisation d'échantillons de films et de surfaces dans des conditions sèches et dans des environnements liquides.

Codes CPV

MicroscopesChecking and testing apparatus

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