Danemark – Microscopes électroniques à balayage – The procurement of the Supply, Installation and Commissioning of a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) with Gallium Ion Source

DTU exige la fourniture, la livraison, l'installation, la mise en service et la réception d'une (1) plateforme à double faisceau de microscope électronique à balayage à faisceau d'ions focalisé (FIB-SEM). L'instrument servira un environnement de recherche multi-utilisateurs et sera utilisé pour l'imagerie de surface à haute résolution, la découpe transversale spécifique au site, la préparation de lamelles pour TEM (y compris les flux de travail automatisés), la tomographie 3D FIB-SEM, le dépôt et la gravure assistés par gaz, la manipulation à l'échelle nanométrique et la microanalyse élémentaire par spectroscopie par dispersion d'énergie des rayons X (EDS) et ToF-SIMS.