Danemark – Machines et appareils d'essai et de mesure – One Photonic Wafer Probe Station and one Photonic Assembly Station

Ce marché concerne l'achat prévu par DTU Nano d'une station d'assemblage photonique et d'une station de test de tranches photoniques. Le marché est divisé en deux lots – un pour chacune des deux stations. Les soumissionnaires peuvent choisir de soumissionner pour un ou deux lots, qui seront évalués et attribués individuellement. La station d'assemblage est destinée à connecter des unités de réseau de fibres (FAUs) à une puce optique. Le type de connexion sera un couplage de bord utilisant des boucles de guides d'ondes pour l'alignement, mais si nécessaire, l'alignement peut également être effectué soit en utilisant la source de lumière sur la puce (si elle existe) soit en utilisant une source de lumière externe et en connectant deux FAUs, une de chaque côté de la puce. Ainsi, le but principal de la machine est d'assurer l'assemblage et le fixation de fibres de puces photoniques. Le système doit prendre en charge les activités de recherche, de prototypage, de développement de processus, de fabrication pilote et de production à faible volume au sein de l'installation de fabrication avancée de DTU Nano.  DTU a des activités dans le domaine de la photonique sur silicium (SiPh), des circuits intégrés photoniques (PICs), des émetteurs-récepteurs optiques, des modules laser, des photodétecteurs, des assemblages à fibres optiques, des optiques co-emballées et des dispositifs photoniques quantiques que nous souhaitons soutenir de la meilleure façon possible.  DTU souhaite donc acheter une machine reconfigurable, flexible, polyvalente. Le but de la station de test de tranches photoniques est de caractériser la qualité des circuits intégrés photoniques (PICs). Il doit être possible de caractériser à la fois les performances optiques et électriques. Pour la caractérisation optique, la technique de couplage principal en/à l'entrée sera par couplage par réseaux de diffraction, mais l'équipement doit être possible à être configuré également pour le couplage de bord sur les facettes des composants dans une rainure sur la tranche. Dans ce cas, différents porteurs et fibres peuvent être nécessaires. Les caractéristiques électriques doivent être caractérisées à la fois en courant continu (DC) et en radiofréquence (RF) jusqu'à 40 GHz en utilisant des sondes et/ou des cartes de sondes. Le système doit prendre en charge les activités de recherche, de développement, de qualification de processus et de caractérisation de routine au sein de l'installation de fabrication avancée de DTU Nano.