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France – Microscopes à sonde à balayage – Acquisition d'un module de microscopie à sonde locale (SPM)
Université d'ArtoisFrancePublié le 17 mai 2026
Délai dépassé
FranceDescription
Acquisition d'un module de microscopie à sonde locale (SPM) s'intégrant dans un microscope électronique à balayage existant (SU3800 Hitachi) pour échantillon sous irradiation photonique
Codes CPV
Scanning probe microscopes
Documents et soumission
Résumé AI
Connectez-vous pour un résumé AIContains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.
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