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Suède – Microscopes électroniques à balayage – EDS and EBSD attachment to a field-emission scanning electron microscope

Kungliga Tekniska högskolanSuèdePublié le 30 sept. 2026
15 jours restants

Description

KTH Royal Institute of Technology lance un appel d'offres pour un système intégré de spectroscopie par dispersion d'énergie des rayons X (EDS) et de diffraction des électrons rétrodiffusés (EBSD), à monter sur le microscope électronique à balayage à émission de champ (MEB-FE) JEOL JSM-7800F existant au laboratoire Hultgren.

Codes CPV

Scanning electron microscopes

Documents et soumission

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Contains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.

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