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Allemagne – Microscopes électroniques à balayage – Rasterelektronenmikroskop Starke

Hochschule KaiserslauternAllemagnePublié le 03 août 2026
Délai dépassé

Description

Achats d'un microscope électronique à balayage (MEB) avec module de microscopie à force atomique/magnétique (AFM/MFM) y compris la livraison, l'installation et la mise en service.

Codes CPV

Scanning electron microscopesMiscellaneous compounds for microscopes

Documents et soumission

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Contains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.

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