Terug naar zoeken
Denemarken – Röntgencontroleapparatuur – Kontrakt om Mobile Containerscannere
SkatteforvaltningenDenemarkenGepubliceerd op 23 feb 2026
Geen vervaldatum opgegevenBeschrijving
De uitbestedingscontract omvat de aankoop van 3 mobiele containerscanners, evenals een optie op de aankoop van een extra van hetzelfde type. Bovendien omvat het contract een optie op een serviceovereenkomst van tot 8 jaar na afloop van de garantieperiode van de individuele scanner, evenals training van supergebruikers en een optie op verdere opleiding van scanneroperateurs.
CPV-codes
X-ray inspection equipmentSurveillance and security systems and devicesRepair and maintenance services of trucksRepair and maintenance services of security equipment
Documenten & inzending
AI samenvatting
Meld je aan voor een AI samenvattingContains data from Tenders Electronic Daily (TED), © European Union, ted.europa.eu — CC BY 4.0.
Vergelijkbare aanbestedingen
Danmark – Globale navigations- og positionsbestemmelsesudstyr (GPS eller tilsvarende) – Udbud af Bilflådestyringssystem til Fødevarestyrelsen
FødevarestyrelsenDenemarkenGlobal navigation and positioning systems (GPS or equivalent)IT services: consulting, software development, Internet and supportVervaldatum over 26 dagenGepubliceerd op 04 nov 2026
Danmark – Laboratorieudstyr, optisk udstyr og præcisionsudstyr (ikke briller) – Automatiseret udstyr til dyrkning og resistensbestemmelse af bakteriologiske prøver
Region HovedstadenDenemarkenLaboratory, optical and precision equipments (excl. glasses)Microbiological culturesVervaldatum over 16 dagenGepubliceerd op 25 okt 2026
Danmark – Laboratorieudstyr, optisk udstyr og præcisionsudstyr (ikke briller) – TLA løsning til Præanalyse, Koagulation og Mikrobiologi på KB Rigshospitalet
Region HovedstadenDenemarkenLaboratory, optical and precision equipments (excl. glasses)Vervaldatum over 11 dagenGepubliceerd op 20 okt 2026
Denmark – Scanning electron microscopes – The procurement of the Supply, Installation and Commissioning of a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) with Gallium Ion Source
Danmarks Tekniske Universitet - DTUDenemarkenScanning electron microscopesElectron microscopesIon microscopesVervaldatum over 8 dagenGepubliceerd op 14 okt 2026